新生兒檢驗
重癥聯合免疫缺陷癥檢測
SCID患兒出生時無異常，常在3—6個月時因其來自母親的抗體消失殆盡而出現頻繁發生的感染。SCID患兒因其T細胞的嚴重缺失，如未能及時接受治療，一般會在一年之內死亡。
研究顯示：
SCID的免疫表型特點是嚴重的T細胞減少，而T細胞在發育過程中會產生T細胞受體剪切環（TREC），SCID的患兒幾乎不能產生TREC。研究表明利用TREC檢測SCID具有100%的靈敏度[2]，使用熒光共振能量轉移方法可實現TREC的定量檢測，因此TREC檢測已經成為SCID比較經濟準確的檢測方法。
-
適合人群及檢測意義
●反復發生各種感染且難治的患兒:尋找病因并指導臨床治療；
●有疑似SCID家族史的新生兒（既往生育過在一歲內死于反復/嚴重感染患兒，親屬中有攜帶SCID基因異常者）:早期發現，及時診治；
●其他新生兒:評估風險。
-
檢測方法及內容
●檢測方法 熒光共振能量轉移
●檢測內容 T細胞受體剪切環（TREC）
-
檢測優勢及局限性
檢測優勢：
●檢測試劑盒經過 CE-IVD認證和FDA認證。
●檢測方法是基于干血片的基礎上，結合熒光共振能量轉移（TR-FET）技術，具有高靈敏性。
●檢測過程在一個孔里完成,避免污染，保證結果的可靠性。
●可疑陽性均經過復測，保證了結果的準確性。
檢測局限性：
由于檢測技術的局限性，以及個體的生理差異和其他因素，個別受檢者可能呈現假陰性結果，因此即使一次檢測未見異常，也需要定期進行健康檢查。
-
樣本類型及儲存運輸要求
-
檢測流程
10個工作日（樣本送達實驗室后）
注：樣本采集完成后請將樣本連同檢測申請單一起傳送。
溫馨提示
我公司就重癥聯合免疫缺陷癥，提供如下檢測：
●重癥聯合免疫缺陷癥（SCID）檢測
●新生兒重癥聯合免疫缺陷癥篩查輔助診斷（SCID）
